使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度
COULOSCOPE CMS2  STEP菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀

CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽(yáng)極溶解的庫(kù)侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。

COULOSCOPE CMS2 STEP

菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀CMS2 STEP的特征是STEP測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試 （根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據(jù)庫(kù)侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。