一、菲希爾X射線XULM240產(chǎn)品定位與核心優(yōu)勢

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是德國菲希爾（Fischer）推出的高性能 X 射線熒光（XRF）鍍層及材料分析儀，專為無損檢測場景設計，具備以下核心競爭力：

緊湊精巧：臺式設計節(jié)省空間，適合實驗室及產(chǎn)線快速部署。

精準高效：可對微米級鍍層厚度、材料元素成分（如金、銀、銅、鎳等）進行高精度測量，誤差低至納米級。

操作友好：直觀界面搭配手動 XY 軸工作臺，支持細小樣品（如電子元件、首飾、半導體器件）的精準定位與批量檢測。

二、菲希爾X射線XULM240核心功能解析

1. 無損檢測與鍍層厚度測量

技術原理：通過 X 射線激發(fā)樣品表面鍍層，分析熒光信號強度反推鍍層厚度，無需破壞樣品。

應用場景：

電子行業(yè)：PCB 板鍍層、連接器鍍層厚度檢測。

五金 / 首飾：貴金屬鍍層（如鍍金、鍍銀）厚度測量。

汽車 / 航空：零部件防腐鍍層（如鍍鋅、鍍鎳）質(zhì)量管控。

2. 菲希爾X射線XULM240材料成分分析

元素檢測范圍：可分析從鈉（Na）到鈾（U）的元素，支持定性（元素種類）與定量（含量占比）分析。

典型應用：

來料檢驗：判斷原材料（如合金、涂層）是否符合成分標準。

失效分析：檢測產(chǎn)品表面污染物或鍍層成分異常。

3. 精準定位與觀測系統(tǒng)

手動 XY 軸工作臺：分辨率達微米級，支持樣品平移與旋轉(zhuǎn)，確保測量點無偏差。

高分辨率 CCD 攝像頭：搭配可調(diào)節(jié) LED 光源，實時放大樣品細節(jié)，輔助手動聚焦，提升觀測清晰度。