鍍鉻層厚度測量菲希爾XDL230

鍍鉻層厚度測量菲希爾XDL230

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230//240德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

盡管結構緊湊，但這些儀器都有大容量的測量室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設計（C型槽）可以測量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無法*放入測量室。

XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的超薄的金鍍層也可以用測量點為?0.25mm的準直器測量，20秒的重復精度可達2.5nm。