| 品牌 | ElektroPhysik/德國EPK | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環(huán)保,綜合 |
EPK MINITEST740
EPK MINITEST740
EPK MINITEST 720/730/740涂層測厚儀標準配置： 配件:
帶塑料手提箱，內含： -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
-MINITEST 720(內置探頭)
--或MINITEST 730（外置探頭）
--或MINITEST740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池
MINITEST 720/730/740涂層測厚儀技術數據表
SIDSP探頭
涂層測厚儀探頭 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
涂層測厚儀測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
涂層測厚儀使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
涂層測厚儀測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 |
涂層測厚儀信號處理 | 探頭內部32位信號處理（SIDSP） | |||||
涂層測厚儀精度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
涂層測厚儀重復性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
曲率半徑（凹，內置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個讀數 | |||||
單值模式下大測量速度 | 每分鐘70個讀數 | |||||
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蘇公網安備32021402002647
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